云母屏蔽片检测-检测范围
检测项目
电气性能检测:
- 绝缘电阻测量:≥100MΩ(参照IEC 62631-3-1)
- 介电强度测试:击穿电压≥5kV/mm(参照ASTM D149)
- 表面电阻率:≤10^10Ω·square(参照GB/T 1410)
- 拉伸强度测试:≥50MPa(参照ISO 527-2)
- 硬度检测:维氏硬度≥200HV(参照ASTM E384)
- 弯曲强度:≥30MPa(参照GB/T 9341)
- 热稳定性试验:温度范围-40°C至200°C(参照IEC 60068-2-14)
- 热膨胀系数:≤10×10^-6/K(参照ASTM E831)
- 导热系数测定:≥0.5W/(m·K)(参照ISO 22007-2)
- 成分分析:SiO₂含量≥40wt%(参照GB/T 14506)
- 耐腐蚀性评估:酸/碱浸泡失重率≤0.5%(参照ASTM G31)
- 水分含量:≤0.1%(参照ISO 15512)
- EMI屏蔽效能:≥60dB(频率1-10GHz,参照IEC 61000-4-21)
- RF衰减测试:衰减值≥40dB(参照MIL-STD-285)
- 接地连续性:电阻≤0.1Ω(参照GB/T 17626)
- 厚度均匀性:公差±0.01mm(参照ISO 4593)
- 密度测定:2.7-3.0g/cm³(参照ASTM D792)
- 表面粗糙度:Ra≤0.5μm(参照ISO 4287)
- 湿热老化:1000小时性能保持率≥90%(参照IEC 60068-2-78)
- 冷热循环:-55°C至125°C循环100次(参照JESD22-A104)
- 紫外辐射测试:强度保持率≥95%(参照ISO 4892)
- 线性收缩率:≤0.1%(参照ASTM D1204)
- 热变形温度:≥300°C(参照ISO 75)
- 平整度检测:偏差≤0.05mm(参照GB/T 22894)
- 粘结强度测试:≥5MPa(参照ISO 4587)
- 剥离强度:≥3N/mm(参照ASTM D903)
- 胶层厚度均匀性:公差±0.02mm(参照GB/T 2790)
- 缺陷检查:无裂纹、气泡(参照ISO 8503)
- 清洁度评估:颗粒物≤100个/cm²(参照IEC 61249)
- 颜色一致性:ΔE≤1.0(参照ASTM D2244)
检测范围
1. 天然云母片: 重点检测矿物杂质含量(如Fe₂O₃≤0.5%)和层间结合力,确保高温绝缘稳定性。
2. 合成云母片: 侧重氟金云母成分纯度(KMg₃AlSi₃O₁₀F₂≥98%)及热膨胀系数控制。
3. 云母复合屏蔽片: 核心检测树脂基体粘结强度和EMI屏蔽效能。
4. 高温云母片: 强化热稳定性(>800°C)和导热系数均匀性检测。
5. 柔性云母屏蔽片: 重点评估弯曲疲劳寿命(>10000次)和表面柔韧性。
6. 电子封装云母片: 检测介电强度(>10kV/mm)和尺寸精度。
7. 电磁兼容云母片: 着重RF衰减值和接地连续性。
8. 耐腐蚀云母片: 检测酸/碱环境失重率和水分渗透性。
9. 超薄云母片: 强调厚度均匀性(公差±0.005mm)和表面缺陷。
10. 多层叠加云母片: 核心检测层间粘结强度和热循环耐久性。
检测方法
国际标准:
- IEC 60243-1:2013 电气强度测试方法(使用球电极)
- ISO 527-2:2012 塑料拉伸性能测定(应变速率5mm/min)
- ASTM E384-22 材料维氏硬度测试(载荷范围10-1000g)
- IEC 61000-4-21:2011 电磁屏蔽效能测量(频率范围30MHz-18GHz)
- ISO 22007-2:2015 导热系数测定(瞬态平面热源法)
- MIL-STD-285:1956 射频屏蔽室测试(特定天线配置)
- JESD22-A104:2020 温度循环试验(循环速率10°C/min)
- ISO 4892:2013 塑料紫外老化测试(波长340nm)
- ASTM D903:2018 剥离强度测定(剥离角度180度)
- ISO 8503:2012 表面粗糙度比较样块法(使用触针)
- GB/T 1408-2016 绝缘材料电气强度试验(使用圆柱电极)
- GB/T 228-2010 金属材料拉伸试验(应变速率控制更严格)
- GB/T 4340-2009 金属维氏硬度试验(载荷范围1-100kgf)
- GB/T 17626-2016 电磁兼容试验(频率范围扩展至6GHz)
- GB/T 10297-2015 非金属固体材料导热系数测定(稳态热流法)
- GB/T 5170-2017 环境试验设备规范(温变速率更精确)
- GB/T 14506-2010 硅酸盐岩石化学分析方法(湿法消解)
- GB/T 2790-1995 胶粘剂剥离强度测定(剥离速度300mm/min)
- GB/T 22894-2008 纸和纸板平整度测定(使用光学法)
- GB/T 1410-2006 固体绝缘材料体积电阻率测试(电极尺寸差异)
检测设备
1. 绝缘电阻测试仪: HIOKI RM3545型(测量范围100kΩ-10TΩ,精度±0.5%)
2. 介电强度测试仪: Chroma 19032型(电压范围0-100kV,分辨率0.1kV)
3. 万能材料试验机: Shimadzu AGX-V型(载荷范围0.1-100kN,应变控制精度±0.1%)
4. 维氏硬度计: Mitutoyo HM-200型(载荷10-1000g,测量精度±1%)
5. 热分析仪: Netzsch STA449F3型(温度范围-180°C-1650°C,升温速率0.1-50°C/min)
6. 导热系数测定仪: Hot Disk TPS2500S型(测量范围0.005-500W/m·K,误差±3%)
7. 直读光谱仪: Thermo ARL4460型(元素检测限0.0001%,波长范围120-800nm)
8. EMI屏蔽测试系统: ETS-Lindgren 3164-1型(频率范围30MHz-18GHz,动态范围100dB)
9. 环境试验箱: ESPEC PL-3KPH型(温控范围-70°C-180°C,湿度控制20-98%)
10. 表面粗糙度仪: Taylor Hobson Surtronic 25型(测量范围Ra0.05-50μm,分辨率0.001μm)
11. 厚度测量仪: Mitutoyo Litematic VL-50型(量程0-50mm,精度±0.001mm)
12. 剥离强度测试机: Instron 3345型(载荷范围0.02-5kN,速度控制0.1-500mm/min)
13. 紫外老化箱: Q-Lab QUV/se型(波长340nm,辐照度0.68W/m²)
14. 光学显微镜: Olympus BX53M型(放大倍数50-1000X,数字成像分辨率5MP)
15. 热变形温度仪: CEAST HDT-3型(温度范围20-300°C,负荷范围0.45-1.82MPa)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。